-
判斷太陽能組件是否熱失效時怎么能少了太陽能光伏組件試驗箱
發布時間：2021-01-21
太陽能光伏組件試驗箱于光伏組件、太陽能電池、光伏玻璃、光伏薄膜等太陽能行業的濕熱老化測試，包括：雙85試驗箱、雙八五濕冷凍試驗箱、高溫高濕試驗機、PCT試驗箱、HAST試驗箱等。太陽能光伏組件試驗箱產品用途：太陽能電池模塊的設計使用年限大約是20～30年，而可靠度試驗是仿真陸上太陽光電模塊（晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型）的設計驗證，讓模塊能夠在一般氣候下長期操作20年以上，規范要求太陽能電池需進行：Thermalcycletest（溫度循環測試）、Humidity-freezetest（濕冷凍測試
-
塑膠材料PCT高壓加速老化試驗箱
發布時間：2021-01-15
塑膠材料PCT高壓加速老化試驗箱壹叁伍叁捌肆陸玖零柒陸內外箱均采用304不銹鋼板，圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業容器標準，可防止試驗中結露滴水設計。圓幅內襯，不銹鋼圓幅型內襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。Jing密設計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續200h。自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知An全門禁鎖定控制，門把設計，箱內有大于常壓時測試們會被反壓保護。塑膠材料PCT高壓加速老化試驗箱技術性能指標：1、溫度范圍：＋110℃～＋132℃。2、溫度波動度：±0、5℃。3、溫
-
接線端子hast高壓加速老化試驗箱
發布時間：2021-01-15
艾思荔接線端子hast高壓加速老化試驗箱壹叁伍叁捌肆陸玖零柒陸的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現電子元器件和機械零件的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。接線端子hast高壓加速老化試驗箱產品規格：溫度范圍：+105.0℃~+142.9℃濕度范圍：75%~100%RH溫濕度穩定度：±0.5℃、±3℃RH溫度分布均度：±1℃壓力范圍：0
-
專業人士必須知道的高溫高壓蒸煮儀的5個專業名詞解釋
發布時間：2021-01-11
高溫高壓蒸煮儀一般稱為壓力鍋蒸煮試驗或是飽和蒸汽試驗，主要是將待測品置于嚴苛之溫度、飽和濕度（100%R.H.）[飽和水蒸氣]及壓力環境下測試，測試代測品耐高濕能力，針對印刷線路板（PCB&FPC），用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗..等試驗目的，如果待測品是半導體的話，則用來測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染
-
冷熱沖擊試驗箱作用及溫度沖擊方式
發布時間：2021-01-08
1.冷熱沖擊試驗箱的作用冷熱沖擊試驗箱是用來測試物品及材料在高溫、低溫之間驟變時帶來的物理性能的變化，主要用于檢測物品的熱脹冷縮效應。可用于橡膠、塑料、金屬、電子、電池、機械、玻璃、陶瓷制品等行業的產品檢測，用以了解產品材料性能，提升產品質量。2.冷熱沖擊試驗箱的溫度沖擊方式冷熱沖擊試驗箱分為三箱式冷熱沖擊試驗箱和兩箱式冷熱沖擊試驗箱，是用來進行快速的溫變試驗，三箱式冷熱沖擊試驗箱是將測試物品置于測試區以后，用冷熱氣流來循環交替吹向測試物品。兩箱式冷熱沖擊試箱只有兩個倉室，采用上下移動測試物品的
-
PCT高壓加速老化試驗箱與HAST試驗箱的區別
發布時間：2020-12-28
PCT高壓加速老化試驗箱與HAST試驗箱主要作用是用來測試半導體封裝的濕氣能力，待測產品被置于嚴苛的溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體.廣泛應用于多層線路板，IC封裝，LED屏幕，LED，半導體，磁性材料，釹鐵硼，稀土等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性.常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環境因素(如:溫度)與工作因素(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的
-
HAST高壓加速老化試驗機的9個特點讓你知道它的強大！
發布時間：2020-12-24
HAST高壓加速老化試驗機主要測試產品在高溫、高濕及壓力的氣候環境下的貯存、運輸和使用時的性能試驗，主要用于對電工、電子產品，元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下，對產品的物理以及其它相關性能進行測試，測試后，通過檢定來判斷產品的性能是否能夠達到要求，以便供產品的設計、改進、檢定及出廠檢驗使用。HAST高壓加速老化試驗機適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測，相關之
技術文章
當前位置：首頁 > 技術文章
